硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法GBT1553-2023.pdf
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硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法GBT1553-2023.pdf
本文件规定了非本征硅单品和错单品体内载流子复合过程中非平衡少数裁流子寿命的光电导衰减调试方法。
本文件适用于非本征硅单品和绪单品中非平衡少数载流子寿命的测试。