电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法SJT10552-2021.pdf
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电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法SJT10552-2021.pdf
《电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法SJT10552-2021》讲解了有关于如何利用发射光谱法对电子陶瓷生产过程中所用二氧化钛原料中的杂质成分进行系统检测和定量分析的技术规程。文件详细规定了适用于该种材料样品制备、测试条件设定等步骤要求，并且针对各类微量元素诸如铁、铝、钙、镁等多种在工艺流程中可能会干扰或影响产品质量的关键指标杂质元素确立了具体的检测流程与方法。文中列举并解析了使用发射光谱仪时的仪器参数调节，包含波长选择范围、观测方式以及校正曲线制定等方面的要求来确保结果的准确性与稳定性，从而为后续电子陶瓷加工过程提供可靠的基础数据支持。
《电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法SJT10552-2021》适用于电子陶瓷及相关行业的研发人员和技术工程师，特别针对那些需要严格控制原料纯度以确保产品性能稳定的专业领域。这份文档对于质检部门而言也是不可或缺的操作指南，在实际生产中，它帮助确保进入生产链的每一批二氧化钛都符合预定标准，减少了因原材料质量问题引起的一系列成品缺陷问题的可能性。此外，此文件同样为从事该类物质进出口业务的企业提供官方认可的标准依据。
