空间环境 宇航用半导体器件单粒子效应脉冲激光试验方法GBT43967-2024.pdf

《空间环境 宇航用半导体器件单粒子效应脉冲激光试验方法》讲解了针对空间环境中使用的半导体器件进行单粒子效应测试的具体激光脉冲试验方式。文章详细说明为了确保宇航工程中各类半导体器件能在复杂宇宙射线的影响下保持可靠性而设计的一系列实验规范。从设备准备方面，包括对所需的专业激光器的选择及校准、辅助设备配置要求进行了阐述。对于样品前处理过程规定得严谨细致，确保待测试半导体能够处于最佳受试状态。文中具体介绍在设定实验条件时关于温度范围、辐射剂量以及不同入射角度的选择依据。还列举出实施步骤按部就班地完成整个单粒子效应的诱导，并通过记录分析由激光引发半导体响应数据如电流变化等参数。同时制定结果评价体系用于评判半导体性能是否达到预期抗辐射能力。最后探讨可能出现误差来源与改进办法，以完善该种脉冲激光的实验方案，促进宇航级电子组件安全质量标准的发展进步。

《空间环境 宇航用半导体器件单粒子效应脉冲激光试验方法》适用于航天航空制造企业、科研院所及相关检测机构，尤其是参与载人飞船、卫星、火箭等高端装备制造的企业和研发团队。对于那些专门从事宇航级半导体元器件生产、测试与研发工作的科学家、工程师而言至关重要。此外，高等院校相关专业学生也可借助此文件深入了解该领域的标准化实验流程，为日后投身行业做好准备。