痕量水分仪校准规范JJF(京) 156-2024.pdf

《痕量水分仪校准规范》讲解了用于痕量水分仪的校准规范，明确了适用于基于光腔衰荡光谱法和可调谐半导体激光吸收光谱法原理以及其他光学原理设备的校准流程。此文档对计量特性、校准条件以及校准方法进行了详细介绍，并提供了具体的参数与范围供使用者参考。在计量特性中，明确了外观及功能检查的详细指标，以及湿度示值误差允许范围等数据，如不同露点温度下的最大允许误差等信息。《痕量水分仪校准规范》描述了环境条件的具体要求，包括温度、湿度及电源电压和频率等标准，并针对不同露点温度范围，提出了相应的气体管路系统连接管材要求。文档还详细列出了校准用设备的选择规范，例如在测量露点范围低于-90℃时需采用标准湿度发生器作为标准器，并附有标准器的对应技术要求。此外，《痕量水分仪校准规范》给出了具体的校准项目及方法说明，确保仪器能够在准确性和可靠性上达到高标准，并包含复校时间间隔的内容。

《痕量水分仪校准规范》适用于使用痕量水分仪进行测量并关注精准度控制的行业或单位，尤其适合需要进行微量水分测量的企业与研究机构。适用人员包括但不限于从事精密湿度测量的专业技术人士，以及涉及仪器校准和质量管理的工程技术人员。对于应用光腔衰荡光谱法和可调谐半导体激光吸收光谱法相关仪器的企业或实验室而言，本规范具有重要的指导意义。通过按照该规范操作，可以有效提高痕量水分仪在石油化工、航空航天、半导体等行业应用中的可靠性和准确性。