分子筛晶胞参数的测定 粉末 X 射线衍射法NBSHT0972-2018 SAPO-11.pdf
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分子筛晶胞参数的测定 粉末 X 射线衍射法NBSHT0972-2018 SAPO-11.pdf
《分子筛晶胞参数的测定 粉末X射线衍射法NBSHT0972-2018 SAPO-11》讲解了利用粉末X射线衍射（XRD）技术测定分子筛，特别是SAPO-11材料晶胞参数的标准方法。该文件对X射线衍射图谱的获取、数据处理流程、衍射峰位置的确定以及晶格参数的计算进行了详细说明。其中包括实验设备的技术要求，如X射线衍射仪的精度标准、辐射源类型、扫描范围的设置。文件还明确了样品制备的方法与注意事项，以保证测试结果的准确性与重复性。在数据处理部分，强调使用适当的软件进行衍射图谱分析，并结合Rietveld精修等方法实现晶胞参数的有效求解。
《分子筛晶胞参数的测定 粉末X射线衍射法NBSHT0972-2018 SAPO-11》适用于涉及分子筛材料研发、生产和应用的技术领域，尤其是化工、石化和催化剂开发相关行业。同时，文件可为科研机构、检测机构及企业实验室等在进行材料结构表征和质量检测工作中提供参考和规范。对于关注SAPO-11型分子筛性能研究和材料晶格参数准确表征的工程技术人员、分析人员和科研工作者，此标准具有重要指导价值。
