
激光粒度分析仪校准规范JJF 1211-2008.pdf
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- 激光粒度分析仪校准规范JJF 1211-2008 激光 粒度 分析 校准 规范 JJF 1211 2008
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《激光粒度分析仪校准规范》讲解了针对采用静态光散射原理的激光粒度分析仪进行计量特性检测和校准的一系列技术要求及方法,这些设备用于测量分散在液体介质中的固体颗粒的大小及其分布情况。该规范规定范围为这类特定类型仪器的校准,引用文献涵盖了相关国际和国家标准化文獻,如通用计量术语、粒度分析通则等,确保其实施有据可依。在术语方面,文档明确了重量(体积)分布中位直径的概念,这一参数在实际应用中作为评估颗粒粒径的关键指标。概述部分详尽地解释了激光粒度分析仪的主要组成结构和运作原理,指出了设备通过将光束照射到被测物上的过程中产生的光散射信息来计算粒径的技术手段。此外,《激光粒度分析仪校准规范》对测量重复性提出限制,指出同一标准样本测量结果的最大偏差不得超过3%。而关于相对误差,规范设定了具体的允许区间,并依照分辨力将设备分类为A或B两个级别,根据其区分两个特定位径标准物质的能力。在校准过程与通用技术要求上,它制定了明确的操作指南包括外观检测、不同环境条件下性能影响因素、绝缘电阻测试等内容,以及具体项目和对应方法以供执行机构遵循。附录提供了校准工作所需的额外参考资料和支持文件,如如何制备合格的清洗溶剂等细节,同时提供了记录内页格式及校准证书样式以便用户保存和查询。
《激光粒度分析仪校准规范》适用于激光粒度分析仪制造厂商、科研院校实验室、第三方独立检验实验室等行业领域。无论是生产新型仪器前后的质量保证测试,还是长期使用后定期验证精度维持状况的过程中都需要依据这份文档进行操作。这确保所有此类测量设备在其使用寿命期间保持一致的精度和准确性,进而保障实验数据的质量以及研究开发、生产控制等方面依赖的数据可靠性和有效性。此规范也指导着从事上述工作领域的技术人员正确理解并执行各项校准任务,使得每一次检测都能够准确无误,并且当出现争议或问题时能够找到清晰的答案来源。
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