光学和光学仪器环境试验方法第10部分：振动(正弦)与高温、低温综合试验GBT12085.10-2010.pdf

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关键词：: 光学和光学仪器环境试验方法第10部分：振动正弦与高温、低温综合试验GBT12085.10-2010 光学光学仪器环境试验方法 10 部分振动正弦高温低温综合 GBT12085

资源简介：: 《光学和光学仪器环境试验方法第10部分：振动(正弦)与高温、低温综合试验》讲解了针对光学及光学仪器的特殊环境测试方法。这一标准聚焦于将正弦振动测试与极端温度条件（即高温和低温）相结合作为综合环境试验的方法论，旨在评估光学器件在实际工作环境中承受复合应力的能力。标准定义了详细的参数设定流程以及设备操作规程。文中对不同类别样品的选择、安装固定方案提出了具体指导，并对试验期间温度控制精度、变化速率做出了严谨要求。关于振动参数，包括频率范围、加速度等级、扫描速率为实验实施提供了精确指标。此份文档也规定了在振动与温变过程中必须记录的关键数据及其测量方法，确保数据的有效性与可追溯性。为了保证检测效果，还列举了各种情况下试验结果判定依据及复验条款等内容，为后续分析提供可靠的支持。

《光学和光学仪器环境试验方法第10部分：振动(正弦)与高温、低温综合试验》适用于涉及设计、制造光学元件的企业和技术服务机构。无论是镜片、镜头组这类单一部件还是复杂的成像系统，该规范对于其研发过程中的质量监控尤为关键。尤其是一些需要长期运行且处于变动气候或震动环境下作业的产品线。本标准有助于提升产品质量水平，保障在复杂应用条件下产品的可靠性。例如军事装备中的光电传感器，航天航空领域的观测装置等都依赖此标准进行严格的质量控制，以满足苛刻使用需求。

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