半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命GBT4937.23-2023.pdf

上传人：一***

文档编号：305573

上传时间：2023-10-31

格式：PDF

页数：11

大小：2.30MB

文档加载中……请稍候！
如果长时间未打开，您也可以点击刷新试试。

下载文档到电脑，查找使用更方便

9.8 金币

下载	加入VIP,免费下载

版权申诉 word格式文档无特别注明外均可编辑修改；预览文档经过压缩，下载后原文更清晰！ 立即下载

配套讲稿：: 如PPT文件的首页显示word图标，表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
特殊限制：: 部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片，仅作为作品整体效果示例展示，禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
关键词：: 半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命GBT4937.23-2023 机械气候试验方法 23 部分高温工作寿命 GBT4937 2023

资源简介：: 《半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命GBT4937.23-2023》讲解了对固态器件在偏条件和温度变化随时间影响的评估方式，旨在模拟高温环境中的加速老化过程。文件详细描述了试验的基本概念和目的，并指出通过设定特定的时间段和温度参数，能够有效鉴定出固体元件在高温工作状态下的实际使用寿命与稳定性。文中提及老炼作为高温下进行短期应力测试的一种形式，用于检测并筛除早期潜在故障部件。这种测试有助于确保投入市场的电子产品具有足够的耐用性。然而本标准并未涉及如何具体执行这一筛选流程的指南，也没有详尽列出应用范围或者详细实施规则。

《半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命GBT4937.23-2023》适用于各类电子制造商、特别是关注产品可靠性和稳定性的固态器件生产商。该文件对于研发部门尤其重要，它提供了一个评估固态元器件高温环境适应性的框架。质量控制人员可通过参考此文来确定生产环节中应达到的最低性能要求，进而改善制程管理和优化生产工艺。测试工程师可以根据文件中所述的方法设计更为精准有效的检验方案，确保出厂前每个组件都能符合预定的技术规格。同时这对于采购商选择高质量可靠的电子元件也起到了重要的指引作用。

展开阅读全文

安全人之家所有资源均是用户自行上传分享，仅供网友学习交流，未经上传用户书面授权，请勿作他用。

关于本文

本文标题：半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命GBT4937.23-2023.pdf
链接地址：https://www.aqrzj.com/doc/305573.html

半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命GBT4937.23-2023.pdf

友情链接

半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命GBT4937.23-2023.pdf