集成电路测试用微波探针应用规范DB51T3207-2024.pdf

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文档编号：371337

上传时间：2025-01-06

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关键词：: 集成电路测试微波探针应用规范 DB51T3207 2024

资源简介：: 《集成电路测试用微波探针应用规范》讲解了四川省地方标准对集成电路测试用微波探针的分类、应用要求、故障判定、推荐指数以及维护需求等详细规定。该文件明确了微波探针在微波集成电路测试中的选用规则，确保探针的选择和使用符合技术要求。规范中具体描述了微波探针的分类，包括同轴探针和波导探针两大系列，并进一步细分为小功率同轴探针、高功率同轴探针、低频波导探针和高频波导探针。对于每种探针类型，文件规定了其适用频率范围、耐受功率、针尖宽度及扎痕面积等参数。此外，文件还提出了探针的应用要求，涵盖环境条件、仪器设备选择、针尖宽度与焊盘尺寸的匹配关系及针间距的选用标准。为了保证探针的可靠性和使用寿命，文件还提供了故障判定方法以及维护需求的具体指导。

《集成电路测试用微波探针应用规范》适用于从事微波集成电路设计、生产、检测的相关企业及科研机构。特别是那些需要进行高频电路性能测试的企业或实验室，如通信设备制造商、半导体器件研发单位等。本标准为这些机构提供了一套完整的技术指南，帮助他们正确选择和使用微波探针，提高测试精度和效率，确保产品质量符合行业标准和技术规范。同时，该标准也适用于监管部门，用于监督和管理相关产品的生产和使用过程。

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