天线测量场地检测方法GBT44599-2024.pdf

《天线测量场地检测方法》讲解了针对不同类型天线测量场地的检测要求与具体的检测方法，旨在为相关工作的执行提供指导。该标准定义了如微波暗室、静区等关键概念，并详细列出了远场测量场地、近场测量场地和紧缩场测量场地的各项性能检测内容与方式。在远场测量场地方面，该标准描述了包括暗室屏蔽性能、静区反射电平性能、口径场性能在内的多项检测指标，提供了自由空间电压驻波比法等多种测量方法。而对近场测量场地，则涉及了探头幅相性能检测及交叉极化性能检测，强调多探头系统的均匀性测试。至于紧缩场测量场地，同样围绕暗室屏蔽性能以及静区内的特殊检测展开。这些内容涵盖了场地的基本功能评估，到更深层次的关键技术指标测量。此外，《天线测量场地检测方法》适用的工作频段为400MHz至6000MHz的范围。

《天线测量场地检测方法》适用于通信领域的各类天线研发、制造与质量控制工作。主要涵盖无线电通信设备制造商、运营商及其相关的第三方测试机构，尤其是在需要进行精密天线性能测试的企业中尤为关键。本标准所设定的具体测试方法和要求，不仅适合上述频段，也能够供其他频率区间内的天线测量作为参考。这意味着无论是传统无线通信基站还是现代5G网络中的复杂天线系统评测均适用，极大地满足了行业发展需求。