比相仪校准规范JJF 2240-2025.pdf

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关键词：: 比相仪校准规范JJF 2240-2025 校准规范 JJF 2240 2025

资源简介：: 《比相仪校准规范》讲解了比相仪的校准方法及其技术指标，涵盖范围、计量特性与校准步骤的详细要求。规范明确了该设备的核心性能如输入灵敏度及相位漂移，并对其校准所需的环境和测试条件进行阐述。具体而言，文档详细说明了比相仪的构造和操作原理：设备通过放大整形电路对被测信号与参考信号进行处理并形成方波；鉴相器随后将这些信号送至滤波环节，生成电压差分值以便精确测量两频率输出信号的相位偏差。同时，文件还描述了相位漂移等重要性能特征的具体测量手段。依据标准条件下的测试流程，规定了输入端点对不同电平值的接收阈限及相位微跳变的容许误差界限。

《比相仪校准规范》适用于无线电计量领域相关单位及科研机构，主要用于开展比相仪的技术性能评价与校准验证。包括但不限于国家级计量科学研究院、各大企业旗下的精密电子设备制造商以及高等院校实验中心。本文件针对10MHz及以下工作频段的比相仪提出了具体的校准方案和评估依据，其内容可供仪器研发人员在产品改进过程中参照执行。此外，文档亦可用于专业技术人员了解设备关键部件的作用机理与调试技术，为后续维护保养提供了权威参考准则。

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