半导体管特性图示仪校准规范JJF 1236-2010.pdf

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关键词：: 半导体管特性图示仪校准规范JJF 1236-2010 半导体特性图示校准规范 JJF 1236 2010

资源简介：: 《半导体管特性图示仪校准规范JJF 1236-2010》讲解了半导体管特性图示仪的校准规程和具体要求。该规范详细说明了图示仪在各类测试环境下的应用与维护，确保测试数据准确可靠。文件涵盖了范围、引用文献、术语定义以及对设备计量特性的详尽描述。特别是在第五部分，着重阐述了校准信号的标准，例如直流电压误差为(0.5±1)%，矩形脉冲信号电压输出也应满足同样条件，并针对Y轴、X轴、阶梯信号、集电极功耗限制电阻进行了详细的精度和范围限定。Y轴部分规定了电流偏转系数及其误差范围，在0.1A/div到0.5A/div（连续）以及1A/div到10A/div（脉冲），且误差均为(15)%；基极电压与二极管反向电流也有相应的要求。X轴则包括不同器件下电压偏转系数及倍率的具体参数设定。第六部分至第九部分分别明确了校准所需的环境条件和技术设备标准，列出了需要执行的校准项目、方法以及结果表达方式。最后附录提供了校准证书模板与不确定度评定案例，帮助相关人员更好地理解和操作。

《半导体管特性图示仪校准规范》适用于具备插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪校准过程。主要面向电子元器件制造业、科研单位及所有涉及此类测试仪器的应用场合。尤其对从事半导体技术研究开发、质量控制和技术支持的专业人员具有重要指导意义，是保证测量精度，提升工作效率和产品质量的关键依据。此文件旨在保障图示仪能够精确无误地完成半导体器件分析和直流参数测量，广泛应用于各相关产业部门。

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