光学和光子学 微透镜阵列 第2部分：波前像差的测试方法GBT41869.2-2022.pdf
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《光学和光子学 微透镜阵列 第2部分：波前像差的测试方法GBT41869.2-2022》讲解了微透镜阵列中波前像差测试的一系列标准和程序。该文档定义了术语和单位并描述了与测量和分析相关的方法论，提供了不同条件下评价微透镜阵列性能的具体手段。它包括使用多种技术如激光干涉测量法、扫描式探测器以及波面曲率分析技术来实现精准评测。文档详细介绍了各种方法适用的情况以及可能遇到的技术难点，并针对不同类型的波前像差，从低级直到高级，给出详尽说明。此外，还规定了一些特定情况下的数据采集、处理步骤和算法优化，使用户能够依据这些准则确保测量结果的一致性和可靠性。
《光学和光子学 微透镜阵列 第2部分：波前像差的测试方法GBT41869.2-2022》适用于从事微透镜阵列研发生产的企业、科研院校的相关实验室，以及致力于提高光学元件检测准确度的专业检测机构和技术服务机构。这些领域内的工程师和科学家可以通过遵循该标准进行科学实验设计及数据分析，有助于推动微光学器件制造工艺改进，同时帮助产品质量评估人员获得更高精度的检测成果。这也有利于加强行业内产品标准化建设，促进技术创新和国际合作交流。
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