超高频射频识别(RFID)芯片测试方法DB44T1905-2016.pdf

《超高频射频识别(RFID)芯片测试方法》讲解了针对800/960 MHz频段的超高频射频识别标签芯片和阅读器芯片的系统性测试规范。该标准明确了物理层与协议层的功能及性能测试方法，其中，对标签芯片的测试涵盖电磁识别门限功率、可读写门限功率等关键指标，并要求依据相关空中接口协议进行校验；阅读器芯片的测试聚焦于发射机输出频率、功率稳定性和频谱掩板限制、以及接收机阻抗、带内响应、降敏容限等多个参数。此外，《超高频射频识别(RFID)芯片测试方法》描述了具体的测试平台搭建方式，列明测试设备如频谱分析仪、信号发生器和网络分析仪的配置要求，并对接口连接方式提出建议。文档还设定了正常温湿度环境与默认5%测量容差条件，强调在测试前应记录测试场地本底噪声水平至少1分钟以上，并对所引用的相关协议包括GB/T 29768-2013、GJB 7377.1-2011及ISO/IEC系列国际标准进行了明确说明，旨在保障测试结果的一致性及可复现性。

《超高频射频识别(RFID)芯片测试方法》适用于电子通信、物流追踪、智能制造等涉及自动识别技术的行业中负责研发、设计、制造或评估RFID系统的半导体企业和科研院所。特别对于开发支持800/900 MHz空中通信协议的标签及读写芯片的企业、产品质检机构及标准化相关部门，提供了从实验室构建测试装置到批量质量抽检环节中所需的标准化操作流程和合规性的衡量指标。此外，由于其包含的测试规程也兼顾了国防军事领域（如参照GJB标准），因此同样适用于相关军用RFID组件的检测单位和技术监管部门。